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I perfezionamenti apportati alle strumentazioni

di misura e la possibilità di elaborazione rapida

e massiva dei dati registrati consentono una approfondita

conoscenza dello stato geometrico del binario. Ciò non

di meno, a causa delle intrinseche limitazioni dei sistemi di

misura e di alcune inadeguatezze dei criteri di analisi, devono

essere ammesse soglie d’incertezza sull’effettiva entità

e configurazione della geometria misurata. L’adozione di

complessi metodi di riproduzione della misura e l’integrazione

di criteri, tra loro diversificati, consentono, però, di

controllare tali incertezze entro limiti accettabili.

Partendo da un breve richiamo sullo sviluppo recente

delle apparecchiature di misura, l’articolo propone alcune

considerazioni sui metodi di analisi della geometria del binario,

ponendo in risalto quanto le attuali tecniche di elaborazione

possono, in prospettiva, fornire risultati del tutto

soddisfacenti anche per i binari a più elevate prestazioni